La demanda de inspección de alta velocidad, alta precisión y gran campo de visión en la producción industrial es cada vez más urgente. Ante los exigentes escenarios de detección en semiconductores, baterías de litio, fotovoltaica y otras industrias, las cámaras de matriz de área tradicionales están limitadas por la velocidad de fotogramas, la resolución y el rango de respuesta espectral, lo que dificulta cumplir con las necesidades de detección de alta eficiencia y alta precisión. MindVision La cámara de matriz lineal industrial infrarroja de onda corta desarrollada de forma independiente MV-GEL20I, chip producido en el país, alta resolución 2K, frecuencia de línea ultra alta de 40 kHz y tecnología de disparo multimodo, redefine los límites de la eficiencia y precisión de la inspección industrial.01
Características del producto
· El MV-GEL20I utiliza un sensor InGaAs para admitir la banda de 900-1700nm, integrando la luz visible y las bandas de respuesta SWIR en una cámara, logrando un doble uso y ampliando en gran medida el campo de visión y el alcance del objeto de detección.
· La frecuencia de la línea puede ser de hasta 40K, y el software puede configurarse libremente.
· Los componentes principales están diseñados localmente para romper la dependencia de las importaciones y garantizar la seguridad de la cadena de suministro y el control de costos.
· Admite la división y duplicación de frecuencia de la señal del codificador para coincidir con precisión con la plataforma de movimiento.
· Admite una variedad de métodos de disparo, como el disparo sincrónico del codificador, el disparo sincrónico combinado del sensor fotoeléctrico y el codificador.
· El hardware admite el ROI de píxeles horizontales y el empalme automático de cualquier línea en la dirección vertical (no excede el límite superior especificado).
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Espectrogramas
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Parámetros del producto
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El MV-GEL20I |
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Monocromo/Color |
SWIR |
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Tipo de sensor |
InGaAs |
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Tamaño del sensor |
12,8 × 0,025 mm |
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Tamaño del píxel |
12,5 micrones x 12,5 um |
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Píxeles efectivos |
2048×1 |
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Sensibilidad |
≥0,8 A/W |
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Frecuencia máxima de línea |
40KHz |
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Tiempo de exposición |
0.005-50ms |
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Modo disparador |
Continuo/activado por software/activado por cuadro/activado por línea/ Frecuencia máxima de línea Disparador de fila condicional |
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Casos de aplicación
Detección de grietas ocultas del panel fotovoltaico:
Las células solares de silicio cristalino presentan defectos durante la producción que afectan la eficiencia y la vida útil, tales como grietas ocultas y arañazos, que a menudo son difíciles de detectar a simple vista o con la luz visible. Con las propiedades de electroluminiscencia (EL) y fotoluminiscencia (PL), se puede hacer que la célula emita luz infrarroja de onda corta aplicando una polarización positiva o irradiación láser. La luminiscencia de la región defectuosa es diferente de la región normal, por lo que las células en el estado excitado se pueden detectar usando una cámara infrarroja de onda corta para identificar eficazmente los defectos internos.
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Aplicación del producto
Inspección PCB
Inspección de paneles fotovoltaicos
Detección de pantalla plana
Detección metales
Inspección de plásticos
Pruebas de la industria de la impresión
